顆粒物分析儀采用紅外線后方散射光方式，從傳感系統(tǒng)的先端射出的紅外線光束照射在顆粒物上產(chǎn)生光散射，此散射光通過集光鏡到達(dá)傳感器上，傳感器把檢測(cè)到的光強(qiáng)度信號(hào)轉(zhuǎn)成電信號(hào)，該信號(hào)通過放大器和模塊轉(zhuǎn)換電路，在微機(jī)顯示器上顯示出顆粒物的濃度，可以進(jìn)行長(zhǎng)期穩(wěn)定的監(jiān)測(cè)。

　　在開始采樣時(shí)，發(fā)射的β射線通過一個(gè)過濾帶的清潔面測(cè)量，然后該過濾帶截面被推至采樣口，粒子物質(zhì)被吸入采樣口并且沉淀在濾紙上，當(dāng)采樣結(jié)束后，過濾帶返回到其原始位置，再重新測(cè)量透過截面的β射線，通過兩種測(cè)量結(jié)果的不同，從而準(zhǔn)確的得出粒子濃度。

　　該設(shè)備采用這種β射線衰減的原理測(cè)量質(zhì)量粒子密度，一個(gè)小的14C射線源（β射線）連接一個(gè)靈敏的用來(lái)計(jì)算發(fā)射的β粒子的探測(cè)器。該過濾帶放置在β射線源和探測(cè)器之間，當(dāng)沉淀在過濾帶上的粒子增加時(shí)，探測(cè)器上測(cè)到的β粒子便會(huì)減少。

　　顆粒物分析儀能夠?qū)崟r(shí)評(píng)估運(yùn)行狀態(tài)，從而確保的可信度和良好的數(shù)據(jù)修復(fù)質(zhì)量，用戶可以根據(jù)數(shù)據(jù)的需求選擇各種標(biāo)準(zhǔn)，包括與平均值的偏離情況，高值的偏離和許多其他常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)識(shí)，如系統(tǒng)斷電等，這種帶有日期，時(shí)間和類型的標(biāo)識(shí)會(huì)被記錄，并且在日常的數(shù)據(jù)修復(fù)時(shí)打印出來(lái)。

　　每個(gè)循環(huán)進(jìn)行的自動(dòng)零點(diǎn)和漂移標(biāo)定可以確?？煽慷鴾?zhǔn)確的測(cè)量，當(dāng)儀器出現(xiàn)故障，錯(cuò)誤標(biāo)識(shí)會(huì)被存儲(chǔ)且數(shù)據(jù)視為無(wú)效。零點(diǎn)測(cè)試是在每個(gè)循環(huán)開始和結(jié)束時(shí)進(jìn)行的，在測(cè)量空白過濾紙時(shí)仍可以保持正常輸出，漂移測(cè)量是通過在測(cè)量路徑上自動(dòng)插入一張參比膜來(lái)實(shí)現(xiàn)的.

　　希望上述內(nèi)容能夠幫助您更好的使用該產(chǎn)品。